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多(duō)千兆序列介面的(de)信號完整性方法

By Ken Willis, Cadence

隨著電子行業技術的(de)發展,特別是在傳輸介面方面,從 PCI 到 PCI Express、從 ATA 到 SATA、從並行 ADC 介面到 JESD204、從 RIO 到 Serial RIO 等等,無一都證明(míng)了(le)傳統平行介面的(de)速度已經達到瓶頸,取而代之的(de)是速度更快(kuài)的(de)序列介面,於是原本用(yòng)於光(guāng)纖通(tōng)信的(de) SerDes 技術成為了(le)高(gāo)速序列介面的(de)主流。序列介面主要應用(yòng)了(le)差分(fēn)信號傳輸技術,具有功耗低、抗幹擾強,速度快(kuài)的(de)特點,諸如 PCI Express®(PCIe®)Gen4 等串列鏈路介面的(de)資料傳輸率將達到雙位千兆級傳輸速率。由此,器件建模、互連建模和(hé)分(fēn)析方法必須不斷發展,以應對不斷減小的(de)設計餘量和(hé)當今工程師面臨更具挑戰的(de)合規標準。本系列文章(zhāng)將從各方面深入分(fēn)析探討,為了(le)降低風險並優化(huà)設計,將分(fēn)析盡可(kě)能地推向上遊至關重要,以實現權衡、可(kě)行性研究、元件選擇和(hé)約束獲取。

由於諸如 PCI Express®( PCIe® )Gen 4 等串列鏈路介面的(de)資料傳輸率將達到雙位千兆級傳輸速率,器件建模、互連建模和(hé)分(fēn)析方法必須不斷發展,以應對不斷減小的(de)設計餘量和(hé)當今工程師面臨更具挑戰的(de)合規標準。為了(le)降低風險並優化(huà)設計,將分(fēn)析盡可(kě)能地推向上遊至關重要,以實現權衡、可(kě)行性研究、元件選擇和(hé)約束獲取。

鏈路中,SerDes 發射器和(hé)接收器的(de)均衡地精確建模對於獲得(de)更好的(de)模擬結果至關重要,這包括幾乎所有高(gāo)資料速率串列鏈路中存在的(de)複雜自我調整均衡。隨著過孔陣列需要全波 3D 的(de)解決方案,以便透過過孔 stub 和(hé)耦合行為準確地表徵其複雜性,互連模型也(yě)面臨新的(de)挑戰,這可(kě)能會需要幾分(fēn)鐘到幾小時或幾天的(de)提取時間。模擬之後,經常需要介面特定的(de)後處理(lǐ)來檢查發射器、傳輸同道和(hé)接收器的(de)合規性。

接下(xià)來將介紹創建串列鏈路預設計「 虛擬原型 」的(de)方法,及如何創建與之相關的(de)互連和(hé) SerDes 模型。我們將檢查如何使用(yòng) IBIS-AMI 模型,以及如何在沒有現有模型使用(yòng)的(de)情況下(xià)創建自己的(de)模型。它還將向您展示最新的(de)互連提取技術,以便在控制計算(suàn)時間的(de)同時保證「您需要的(de)全波精度」,及如何使用(yòng)基於標準的(de)合規工具來自動執行佈局後分(fēn)析和(hé)高(gāo)級介面驗收,如 PCI Express Gen 4。

簡介

隨著資料速率的(de)不斷加快(kuài)和(hé)電源電壓的(de)不斷減小,用(yòng)於解釋邏輯的(de)「單位間隔」或「UI」受到了(le)明(míng)顯的(de)壓縮。

圖 1:各種 PCI Express 資料 8’’ 運行通(tōng)過 FR4 帶狀線

隨著工作空間越來越小,將信號完整性(SI)分(fēn)析過程進一步推向上遊變得(de)越來越重要,以便在設計過程中更早地定位問題、應對挑戰,從而減輕流程後端的(de)風險。 這需要傳統方法的(de)一些轉變,以及用(yòng)於建模串列器/解串器或用(yòng)於發送和(hé)接收高(gāo)速信號的(de)「SerDes」器件的(de)新技術。 這種前期的(de)勞動成果包括設計中優化(huà)的(de)材料清單(BOM),以及實現約束驅動印刷電路闆(PCB)物(wù)理(lǐ)佈局過程的(de)約束。 結合高(gāo)效的(de)佈局後互連提取和(hé)自動化(huà)合規檢查,能夠確保給製造商驗收您的(de)設計,沒有意外或進度影(yǐng)響,並在硬體方面取得(de)成功,同時避免昂貴又耗時的(de)重工。

透過「自上而下(xià)」的(de)方法將SI推向上遊

成功實現能夠達到這些資料速率的(de)關鍵因素之一是在傳統的(de)佈局後驗證步驟中將 SI 分(fēn)析起點更多(duō)地推向上遊。這裡有一個錯誤的(de)概念,在傳統的(de)「自下(xià)而上」方法中,直到經過詳細的(de) PCB 佈局後才能進行有意義的(de)分(fēn)析,然而在實際硬體設計環境中並非如此。

當設計工程師完成 layout 後,通(tōng)常有一兩天的(de)時間,來自各個學科的(de)工程師(機械、熱、信號完整性、電源完整性、EMI)可(kě)進行最終檢查,為最後的(de) layout 提供一些改進意見。但是,通(tōng)常要承受來自專案經理(lǐ)的(de)巨大(dà)壓力,要在規定的(de)時間段內將 Gerbers 交給 PCB 製造商,而組裝廠將按序訂購元件並接收這些裸闆進行裝配和(hé)測試,軟體工程師將會等待硬體進入實驗室,以便他(tā)們可(kě)以測試最新的(de)軟體版本。換句話說,在 PCB layout 初步完成時,供應鏈依賴性的(de)多(duō)米諾骨牌效應將被完全捕獲於專案經理(lǐ)的(de)甘特圖中,而在這一點上執行詳細 SI 分(fēn)析的(de)可(kě)用(yòng)時間將很短。通(tōng)常更可(kě)能的(de)是,「運行分(fēn)析,直到時間耗盡,然後發貨」,而不是「運行分(fēn)析,直到您滿意,介面工作正常,然後發貨」。

為了(le)在該 PCB 設計流程的(de)壓縮後端完成關鍵節點的(de)簽收,準備工作至關重要。一個策略是「 自上而下(xià) 」,提前于後期,建立一個早期版本的(de)串列鏈路介面模擬測試台。當您初步瞭解用(yòng)於發送和(hé)接收信號的(de) SerDes 和(hé)協定( 例如 PCI Express Gen 4 )時,可(kě)以在早期 BOM 階段開始從上遊進行詳細的(de)電路圖設計,這是解決系統磁碟分(fēn)割、多(duō)少個 PCB 將用(yòng)於構建信號路徑、以及將用(yòng)到什(shén)麼樣的(de)連接器的(de)一般方法。系統中所有模組的(de)具體詳細模型在這個早期階段並不重要,最初可(kě)以使用(yòng)「 現有模型占位元 」,但是在瞭解更多(duō)詳細資訊的(de)情況下(xià),它們將被替換。( 合規工具包含搭建早期測試平臺所需前期模型的(de)豐富來源,將在後續部分(fēn)中介紹。)簡而言之,如果您可(kě)以在餐巾紙上繪製介面,那麼您應該就能夠早日整合模擬測試平臺。這種自上而下(xià)的(de)方法有很多(duō)好處:

可(kě)使您視覺化(huà)整個系統和(hé)將被遍歷的(de)信號路徑。

可(kě)以說明(míng)您確定完成所有晶片間信號路徑連接所需的(de)所有模型,以備用(yòng)。

提前運行一些步驟,使您可(kě)以提前搭建模擬測試平臺,從而整個過程中的(de)後續工作主要是更新拓撲中的(de)模型、更詳細地重新運行模擬。當時間緊張時,這個過程的(de)後期可(kě)以節省大(dà)量的(de)時間。

圖 2 :一般設計方法

隨著串列鏈路拓撲的(de)初始原型拓撲,並且各個模組至少存在現有初始模型,您應該擁有一個測試平臺,用(yòng)來模擬,並以目標資料速率傳遞流量進行分(fēn)析。現在,在您的(de)設計過程中,將逐漸開始使用(yòng)更具體、更真實的(de)模型替代初始模型。這些模型通(tōng)常有以下(xià)幾類:

SerDes 發射器和(hé)接收器的(de)IBIS-AMI模型

分(fēn)立器件的(de) Spice 模型(例如 AC 去耦電容)

封裝

PCB 走線

PCB 過孔

連接器

第一步是在拓撲中各模組所需的(de)模型以及在庫中的(de)現有模型之間進行差距分(fēn)析。用(yòng)現有模型增強測試平臺,並驗證模擬結果。接下(xià)來,列出缺少的(de)模型,聯繫模型供應商(可(kě)以是內部的(de)或者外部的(de)),並提出模型需求。記錄連絡人(rén)、聯繫日期和(hé)模型的(de)狀態。當您得(de)到它們後,就可(kě)相應地增強您的(de)測試平臺了(le)。

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