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可(kě)測試性設計 (DFT):測試極限

對於設計工程師來說,設計一塊 PCB 需要經過許多(duō)步驟與叠代,並付出大(dà)量的(de)時間和(hé)工作。

如果不能在設計週期的(de)早期階段實施適當的(de)可(kě)測試性設計 (DFT),後果將不堪設想,可(kě)能導緻設計專案的(de)完全失敗。

本電子書為 PDF 版本,全長 9 頁,將討論常見的(de)測試技巧、挑戰和(hé)誤解,以及在設計中應該測試的(de)內容,並介紹 DFT 的(de)五個主要方面。

本書重點

可(kě)測試性設計:為何重要?

利益相關者:確定合作方

測試內容:瞭解流程模式

測試點:可(kě)測試性設計的(de)支柱

測試時間:實施可(kě)測試性設計的(de)階段

測試位置:位置十分(fēn)重要

測試原因:良好的(de)可(kě)製造性設計可(kě)以帶來良好的(de)結果

測試方法:利用(yòng) PCB Layout 工具進行可(kě)製造性設計

如欲瞭解詳細內容,請點擊下(xià)方圖片免費下(xià)載,
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原文出處

EMA Design Automation

中文版授權轉載出處 (映陽科技協同校閱)

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