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產業觀察 | 3D 封裝與 3D 整合有何區別?

By Paul McLellan, Cadence

2022 年 3 月(yuè),第 18 屆國際設備封裝會議和(hé)展覽 (簡稱 IMAPS,是主辦方國際微電子組裝與封裝協會- International Microelectronics Assembly and Packaging Society 的(de)首字母縮寫) 順利開幕。就在同一周,蘋果發佈了(le) M1 Ultra,使先進封裝再次成為了(le)科技新聞的(de)關注焦點。M1 Ultra 由兩個被仲介層 (或稱之為互連橋) 連接在一起的(de) M1 Max 晶片組成。仲介層通(tōng)常比在其之上的(de)裸片更大(dà),而互連橋則較小,並隻位於連接處的(de)裸片邊緣之下(xià)。

在 此次 IMAPS 會議上,Cadence 資深半導體封裝管理(lǐ)總監 John Park 先生闡述了(le) 3D 封裝與 3D 整合的(de)區別。

他(tā)首先指出,系統級封裝 (即 System-in-Package ,SiP) 有兩個不同的(de)方向。一是把 PCB 上的(de)元件轉移到多(duō)晶片組件;二是如同前幾年製造大(dà)型系統級晶片 (即 System-on-Chip, SoC) 一樣進行整合,但是轉換制程利用(yòng)先進封裝來封裝裸片。以下(xià)是一些使小晶片 (Chiplet) 解決方案具有吸引力的(de)重要因素:

在為元件挑選最佳工藝節點方面具有很大(dà)的(de)靈活性;特別是 SerDes I/O 和(hé)類比核,不再需要「全部統一在單一」制程節點上

由於製造裸片尺寸小,所以良率會更高(gāo)

使用(yòng)現成的(de)小晶片 (Chiplet),可(kě)縮短 IC 的(de)設計週期,並降低整合的(de)複雜性

透過購買良品裸片 (即 known-good-die ,KGD),可(kě)普遍降低生產成本

在許多(duō)設計中使用(yòng)同種小晶片 (Chiplet),時,將具有如同採用(yòng)批量生產的(de)相同成本優勢

以 IC 為重心的(de)先進封裝改變了(le)設計流程。上圖中,20 世紀 90 年代設計採用(yòng)的(de)是類似 PCB 的(de)設計流程;而如今已採用(yòng)類似 IC 的(de)設計流程。把多(duō)種不同的(de)技術整合到一起,即 異質整合,結合了(le)多(duō)年以來使用(yòng)的(de)各種制程技術。特別是先進封裝和(hé)先進整合方法,例如晶圓堆疊 (Wafer-on-Wafer) 和(hé)無凸塊整合 (Bumpless)。

我們可(kě)以將 基於封裝 的(de) 3D 視為「後端 3D」,把 先進整合 方式視為「前端 3D」。

後端 3D 是微型凸塊互連 (micro-bumped) 加上每個裸片都有單獨的(de)時序簽核和(hé) I/O 緩衝器。這種方式中,多(duō)個裸片之間通(tōng)常沒有採用(yòng)協同設計。多(duō)年來,這一直是用(yòng)於記憶體和(hé) CMOS 圖像感測器的(de)常見方法。

對於 前端 3D,裸片通(tōng)常是直接鍵合的(de)制程工藝 (銅對銅,或採用(yòng)類似方法)。裸片之間沒有 I/O 緩衝器,這意味著協同設計和(hé)分(fēn)析必不可(kě)少,需要時序驅動的(de)佈線和(hé)靜態時序簽核 (對於數位設計而言)。所以設計將傾向於朝 Z 軸上佈局,多(duō)個裸片會堆疊在一起;這意味著隨著設計的(de)推進,一個特定的(de)區域可(kě)能被分(fēn)配給超過一個的(de)裸片。

這是封裝領域的(de)下(xià)一個重要方法轉變,是通(tōng)往真正 3D-IC 設計的(de)下(xià)一步,也(yě)就是將眾多(duō)不同的(de)裸片堆疊在一起,大(dà)大(dà)縮短信號所需的(de)傳輸距離。當然,同時也(yě)有散熱的(de)問題需要加以分(fēn)析和(hé)管理(lǐ),因為一個裸片上方的(de)另一個裸片可(kě)能起到阻絕散熱的(de)作用(yòng),這取決於眾多(duō)的(de)設計細節。

想要使這一新的(de)設計生態成為現實,仍要面臨諸多(duō)挑戰,包括組裝設計工具包 (即 Assembly Design Kits,ADK) 的(de)可(kě)用(yòng)性、裸片與裸片互連 (d2d) 的(de)通(tōng)用(yòng)標準,以及 EDA 工具的(de)全面支援。

在打造支援這些製造流程的(de)工具時,面臨的(de)一個挑戰是設計規模可(kě)能非常龐大(dà),具有超過 1,000 億個採用(yòng)了(le)多(duō)種設計技術的(de)電晶體。這就產生了(le)對高(gāo)容量、多(duō)領域、可(kě)進行多(duō)技術資料庫相互溝通(tōng)與轉換的(de)工具的(de)需求,隻有這樣,我們才能擁有一個高(gāo)彈性的(de)通(tōng)用(yòng) 3D-IC 解決方案設計平臺。

業界另一個關注領域是小晶片 (chiplets) 的(de)銷售模式。到目前為止,大(dà)多(duō)數小晶片 (chiplets),除記憶體外,都被設計成單一系統或一組系統的(de)一部分(fēn)。從長遠來看,就像如今的(de)封裝元件一樣,未來將會有純裸片上市銷售,也(yě)會有經銷商 (或新公司) 銷售來自多(duō)個製造商的(de)裸片。隨著小晶片 (chiplets) 之間的(de)通(tōng)訊變得(de)標準化(huà),不僅僅是技術上具備挑戰,商業模式上的(de)挑戰也(yě)會應運而生。讓我們拭目以待吧!

3D-IC 有望在網路、圖形、AI/ML 和(hé)高(gāo)性能計算(suàn)等領域產生廣泛影(yǐng)響,特別是對於需要超高(gāo)性能、低功耗器件的(de)應用(yòng)而言。具體的(de)應用(yòng)領域包括多(duō)核 CPUs、GPUs、資料包緩衝器 / 路由器、智慧手機和(hé) AI/ML 應用(yòng)。

從設計的(de)角度來看,要實現真正的(de) 3D 整合,需要對某些設計工具進行一些加強。尤其在架構分(fēn)析、熱分(fēn)析、多(duō)裸片間的(de)排置、時序、測試和(hé)驗證方面的(de)功能都需要提升。此外,還需要新的(de)系統級功能,如頂層規劃和(hé)優化(huà)、晶片裸片 (die) 之間和(hé)小晶片 (chiplet) 之間的(de)信號完整性和(hé) IC / 封裝協同設計。

想要進一步瞭解 3D 整合和(hé)多(duō)個堆疊裸片封裝的(de)設計挑戰、生態系統要求和(hé)所需的(de)解決方案嗎?

歡迎索取 技術白皮書《3D-IC 設計的(de)挑戰和(hé)需求》

譯文授權轉載出處 (映陽科技協同校閱)

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